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中国科学院大学光电学院-中央高校改善基本办学条件设备采购2更正公告(2019年08月12日 )
中国科学院大学光电学院-中央高校改善基本办学条件设备采购2更正公告
2019年08月12日 来源:中国政府采购网 

项目名称:中国科学院大学光电学院-中央高校改善基本办学条件设备采购2
项目编号:BIECC-ZB7048

一、项目联系方式:
项目联系人:王 爽
项目联系电话:010-8237 3532

二、原公告名称及地址时间等:
首次公告日期:2019年07月19日
本次变更日期:2019年08月12日
原公告项目名称:中国科学院大学光电学院-中央高校改善基本办学条件设备采购2公开招标公告
原公告地址:http://www.ccgp.gov.cn/cggg/dfgg/gkzb/201908/t20190807_12627970.htm

三、更正事项、内容:
变更事项:第八章“采购需求”中01包和02包部分内容。
变更内容:
1、01包技术参数变更为如下参数:
品目1光谱椭偏仪
1.主要特点
1)允许用户自定义色散模型,更方便用户研究新材料的光学性质
2)全波长多角度同时数据拟合,多成分化合物和表面粗糙度分析
3)光谱范围:240 nm - 1000 nm,主要覆盖紫外和可见光段,全光谱范围内自动测量。
4)功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
2.技术指标
1)光源:氘灯-卤素钨灯组合灯泡。
2)测量光斑:直径1.5 mm ~ 3 mm,可调节。
3)入射角范围:40° - 90°,步进值5°。
4)光谱范围:240 nm - 1000 nm,主要覆盖紫外和可见光段,全光谱范围内自动测量。
5)测量时间: < 10s (取决于测量模式和粗糙度)
6)样品尺寸:可测量最大6英寸直径样片,样品最大厚度8 mm
7)膜厚测量精度指标:≤ 0.015 nm (100 nm SiO2/Si标准片,1 Sigma标准偏差)
8)折射率n测量精度指标:≤ 0.0002 (100 nm SiO2/Si标准片,1 Sigma标准偏差)
9)膜厚测量范围:至少0.1 nm - 10 μm
10)消光率优于5×10-6
11)探测器:高灵敏度硅CCD阵列探测器,像素分辨率< 0.5 nm;同时测量全光谱范围内的光强。
12)样品准直:配置精密的样品准直透镜ACT和光学显微镜、用于样品的高度和倾斜度(俯仰)准直。配置视频摄像头Camera,可对样品表面进行显微观测。
13)补偿器:全光谱范围内采用宽带补偿器,消除测量死区dead spot;
14)透射测量架
15)样品台:样品水平放置、可真空吸附,样品台直径≥150 mm;样品的高度和倾斜度(俯仰)可调节。
2、01包交货期变更为“合同签订后3个月内”。
3、02包中精密分析天平、等离子清洗机、真空干燥箱、超纯水仪4项设备变更为“接受进口产品投标”。
4、招标文件中其它内容均不做变更

四、其它补充事宜:
详见附件下载

五、联系方式:
采购单位名称:中国科学院大学
采购单位地址:北京市石景山区玉泉路19号(甲)(邮编:100 049)
采购单位联系方式:崔老师010-8825 6103
采购代理机构全称:北京国际工程咨询有限公司
采购代理机构地址:北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座616室(邮编:100 083)
采购代理机构联系方式:王 爽010-8237 3532

 
附件: